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DIN EN 1071-10:2009 Edition

$21.45

Hochleistungskeramik – Verfahren zur Prüfung keramischer Schichten – Teil 10: Bestimmung der Schichtdicke mittels Querschliff

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DIN 2009-10 15
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Diese Norm legt ein Messverfahren zur Bestimmung der Schichtdicke keramischer Beschichtungen fest, bei dem ein metallographisch angefertigter Querschliff der Beschichtigung mit einem kalibrierten Licht- oder Rasterelektronenmikroskop untersucht wird. Sie lehnt sich eng an EN ISO 9220 an, jedoch wurden alle erforderlichen Anpassungen und Aktualisierungen vorgenommen, um keramischen Beschichtungen und der derzeitig besten Praxis zu entsprechen.*Inhaltsverzeichnis

DIN EN 1071-10
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